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原子力顯微鏡的原理

原子力顯微鏡的原理

一、原理 原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy, AFM)是由IBM 公司的Binnig與史丹佛大學的Quate 于一九八五年所發明的,其目的是為了使非導體也可以采用掃描探針顯...
2021-03-04185
化妝品顆粒觀察檢測顯微鏡

化妝品顆粒觀察檢測顯微鏡

XPF-550透反射偏光顯微鏡采用先進的無窮遠光路系統,是地質、礦產、制藥、化妝品等部門和相關高等院校的專業實驗儀器。隨著光學技術的不斷進步,偏光顯微鏡的應用范圍也越來越廣...
2021-03-04198
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